CCD OE750/OE720臺式直讀光譜儀

新型OE750是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產(chǎn)品中痕量元素的檢出限。

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴格，供應鏈變得復雜以及更多地使用廢料作為基礎材料，因此鑄造廠和金屬制造商必須將雜質和痕量元素控制在很低ppm范圍內。在過去，這一級別的OES對許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀。

這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量低的雜質、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE750的測量速度快、可靠性高且運營成本低，可進行高性價比的日常分析和全面質量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。

為什么選擇 OE750?

1. 值得信賴的結果在同類產(chǎn)品中控制雜質和痕量元素的光學分辨率好。

2.綜合成本低負擔得起的購買和運行成本，提供更貴分析儀器所具備的性能。

3. 保持運行不間斷設計可靠，維護和標準化要求極低。

4. 支持連續(xù)生產(chǎn) 分析速度快，啟動時間短，可快速反饋熔液質量。

只需一臺價格合理的OE750設備，就能提供快速全面的金屬質量分析，滿足您所有的需求。

技術參數(shù)：

    Spectrometer Optical System光譜儀光學系統(tǒng)
- Paschen / Runge mounting Multi-CMOS optics采用帕邢-龍格裝置多塊CMOS光學系統(tǒng)
- Diameter Rowland circle: 400 mm. 羅蘭圓直徑：400 mm
- Effective wavelength 119 – 766nm. 波長范圍：119 – 766nm.
- Pixel resolution 7 pm. 像素分辨率：7 pm
    Spark Source火花源
- High energy pre-spark (HEPS) 高能預燃技術 (HEPS)
- Computer controlled parameters計算機調節(jié)參數(shù)
- Frequency 80– 1000 Hz頻率80 – 1000 Hz
- Voltage 250 – 500 V電壓250– 500 V
    Computer and readout system (external PC) 計算機及讀出系統(tǒng)（筆記本電腦，臺式電腦可選）
- Intel(R) i3-7100U 英特爾i3處理器
- Windows 10 operating systems Windows 10操作系統(tǒng)旗艦版
- Min. 2.40 GHz and 4 GB Ram 主頻2.40GHz內存4.00GB
- AMD Radeon R5 M330 顯卡
- Hard disk硬盤容量500GB
- CD-burner CD燒錄功能
- Fire-Wire, LAN Ethernet防火墻，局域網(wǎng)
- Parallel interface并口
- Serial (RS 232) Interface系列RS232接口
- 2 USB Interfaces, 2個USB接口，
- VGA Video port視頻輸出功能
- Battery life 5 hours電池續(xù)航時間 5個小時
- External, 14.1 “TFT-LCD–Display 14.1 “液晶顯示器
- Resolution 1280 * 800 分辨率1280 * 800
- Weight 1.94Kg 重量 1.94千克